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南茂科技27日舉辦研討會發表IC封裝測試先進技術
2000/10/23

鉅亨網記者王志煌/新竹科學園區•10月23日 10/23 10:02

南茂科技27日將在新竹煙波飯店舉辦技術研討會,
將有來自日本、大陸、美國及國內外大學、矽品、南茂
科技等產學界針對先進封裝測技術進行交流,並有和IC
封裝測試相關的技術論文發表。

南茂科技表示,這場研討會將由南茂科技董事長胡
洪九及總經理鄭世杰主持,並邀請竹科管理局長黃文雄
、交大校長張俊彥指導。

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